181.在集成电路绝缘氧化层ESD介质击穿物理模型的基础上，讨论了绝缘氧化层加上一次线性电场条件下发生介质击穿的机理。
182.在时间域中，利用地震记录中的振幅与上升时间信息可以计算出岩石介质的品质因子Q值。
183.一种黄色的树脂，和玻璃具有相似的光学特性，被用来作为显微镜载玻片的覆盖介质。
184.这种阀门适用于高温高压介质。
185.位于不同构造分区内的台站，台站下方地壳介质各向异性特征有所不同。
186.在酸性介质中，磷酸二氢钾与钼酸铵、酒石酸锑钾及抗坏血酸作用，生成蓝色的络合物。
187.岩溶裂隙介质可视为双重孔隙度介质。
188.水、煤和盐的密度与其它介质有很大的差别。
189.分析铀时对取样点位置或介质的要求就不那么严格了。
190.多层介质高反射镜是激光器中重要的光学元件之一。
191.细节各不相同，具体根据软件和备份介质而定，因此您需要参考备份软件文档获取详细信息。
192.在开启-关闭位置，可防止管路流体介质进入阀体和阀塞阀座内。
193.聚乙烯材质因无机成分单纯，导电介质几乎不存在，因此在绝缘及耐电压性的表现上皆优于现有传统管材。
194.可测固体和液体介质。
195.存储介质是一种能使内容被保存的物质材料，通常使用的存储介质是磁盘。
196.本文主要采用理论与数值方法研究了电磁感应透明介质中的光学涡旋孤子。
197.温度对填埋气体在多孔介质中的储存和释放过程有着重要影响。
198.地下水在各种含水介质中运移时，在宏观与微观上具有不同的规律。
199.从一种介质向另一种介质拷贝的复制数据或信息。
200.实现了以塑料光纤为传输介质的快速以太网应用系统。
201.不可逆特性是多孔介质渗流问题的本质特征。
202.当波从均匀介质中的波源移出时，呈直线传播。
203.但如果光在介质内传播就会慢下来。
204.它是将热升华墨水直接打印在涂织物上，无需任何介质，通过显示机色彩还原所需画面。设备稳定，成本低，效率高，省人工，市场前景广阔www.87653.com，商机无限。
205.结论细胞免疫可能在慢性排斥发病中起作用，细胞因子和粘附分子则是一过程中的重要介质。
206.扳开细杆并对准蓝线，或者取出介质。
207.碟形是由于在抛光过程中铜线与介质层不同的抛光速率所导致。
208.运用FAAS快速分析硝酸镉中铁、铜、锌、铅含量，建立了铁、铜、锌、铅的共振线，灯电流，酸性介质等最佳实验条件。
209.氟化氢铵合成存在几个相关的可逆反应，其平衡常数随着反应介质，温度条件的改变而改变。
210.最后，在基于双曲线介质来构造高指向天线。
211.它是表达瓦每平方公尺耗散的每度的温度上升超过冷却介质。
212.该波导为介质波导，内衬两组通路孔作为导体，本文中的这种装置被称为“叠片波导”。
213.利用介质阻挡放电进行常压氮气渗氮研究取得突破性进展。
214.磁法勘探是观测研究地下介质磁场变化的一种地球物理勘探方法。
215.调节阀类:调节管路中介质的流量和压力。
216.根据非线性折射率系数的符号，克尔介质分为自聚焦介质和自散焦介质两类。
217.单个光子的波包的传递速度在介质中不比光速快，而且可以在慢光介质中延迟到秒。慢光介质中的群速度比光速慢。
218.方案一采用介质微带缝隙天线的形式，简便起见，简化机体表面模型为一倾斜放置的超大金属平面。
219.在超临界二氧化碳介质的钯催化末端炔烃羰基化反应中，研究了助溶剂、压力和温度等因素对反应的影响。
220.光纤是一种介质波导的玻璃或塑料。
221.通过对接收点示踪剂浓度曲线反演了岩溶介质类型。
222.高压力的气体是高压绝缘材料的灵活可靠的介质。
223.将导体镜象法推广应用到介质。
224.安全阀类用于介质超压时的安全保护。
225.文中就松散颗粒介质的情况对反射系数进行了简化，得出了前人用唯象理论所获得的结果。
226.给出了多孔介质中脉冲快纵波主频偏移的数值计算实例。
227.在此基础上给出了双曲正割型输入脉冲在介质中的传输特性，得到了近似解析解，并与直接演化高阶非线性薛定谔方程作了比较。
228.在均匀介质中光沿直线传播。
229.以交联琼脂糖凝胶为基质，制备了DEAE型离子交换层析介质。
230.以空气-水为介质，研究了两种板间距填料结构的流体力学性能。
231.溶液中的计算采用可极化连续介质模型。
232.在考虑纵横波Q值的基础上，利用交错网格高阶差分法对粘弹性介质中地震波传播进行了数值模拟。
233.无线网既可以使用红外线也可以使用射频技术作为介质。
234.用于锅炉给水及其它管道系统，作阻止介质倒流用。
235.根据材料力学和弹性力学的有关理论，推导出了溶洞介质的压缩系数计算公式。
236.根据等效天线法，对三维介质天线罩的电气特性进行了分析。
237.离子液体可以作为反应介质和催化剂。
238.油田用制氮设备冷却系统的特点是体积庞大，要求冷却的介质种类较多，可靠性要求高。
239.除非您怀疑引导盘有问题，否则不要选yes，因为检查介质表面要花很长的时间，而且大多数情况下这是不必要的。
240.这一节将只讨论介质分层媒质。
